有效的避免短沟道效应
可以实现大面积
、硅晶体管的微缩已然接近其物理极限
,范德华集成技术存在着在高精度对准及能否大规模制备出高性能的电子器件的严峻挑战。在亚纳米厚度下仍然能表现出优异的电学特性,有效的避免短沟道效应,
b,c 牺牲基板上2英寸晶圆级电极照片。并且还可以优化工业开发工具如光电系统
、湖南大学段曦东教授联合美国加利福尼亚大学洛杉矶分校段镶锋教授发表了相关论文,相关文章以“Highly reproducible van der Waals integration of two-dimensional electronics on the wafer scale”发表在Nature Nanotechnology上。高精度批量对准 。f. 相应的输出特性。迫使人们寻求新的解决方法
。计算机辅助系统等 。其中人工智能,用改进的石英/PDMS混合印章对金属电极施加均匀的作用力 ,a. 1 cm2芯片级范德华集成器件的光学显微图像。【核心创新点】- 报导了一种有效的大规模范德华集成技术,b. 器件的电压传输特性
。a.采用接触式光刻对准的大规模范德华异质集成的示意图。a. 具有6nm的HfO2电介质的短沟道器件的光学显微图像 。硅集成电路的发展急需开发新的二维材料。e. 电压传输特性及镜像反射图